A série 5000 de detectores por deriva de silício (SDD, silicon drift detectors) XFlash® da Bruker Nano inclui agora o XFlash® 5030 T, o primeiro SDD especificamente projetado para operação em microscópios eletrônicos de transmissão (TEM/STEM). Outro produto da linha é o e-Flash, um detector para a difração de elétrons retrodispersados (EBSD) de alta velocidade. A longa experiência da Bruker em tecnologia de SDD levou ao desenvolvimento de um detector sem nitrogênio líquido que satisfaz todos os requisitos para garantir uma operação segura e confiável em TEM/STEM. O XFlash® 5030 T permite uma captação de dados mais rápida e oferece resultados melhores na faixa dos elementos leves que os detectores de Si(Li). Além de proporcionar excelente resolução energética com grande estabilidade, o detector é capaz de processar taxas extremas de impulsos e de suportar facilmente condições de sobrecarga de raios X. O detector para EBSD e-Flash é parte do sistema de análise QUANTAX CrystAlign. Vem equipado com uma sensível câmara de alta velocidade e permite a captação de 630 padrões por segundo com binning de 4x4, e de 800 padrões por segundo com binning 8x8. O detector pode ser ajustado verticalmente, inclusive com o SEM em funcionamento. Isso permite otimizar o sinal e operar a diferentes distâncias de trabalho. O software da Bruker integra EDS e EBSD em uma única interface de usuário, o que permite análises combinadas extremadamente rápidas.