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Solução inédita para difração de Kikuchi transmitida em microscópio eletrônico de varredura
Solução inédita para difração de Kikuchi transmitida em microscópio eletrônico de varredura
A Bruker apresenta o novo cabeçote de detector OPTIMUS™ TKD para difração de Kikuchi transmitida (TKD) em microscópio eletrônico de varredura (MEV). Este recente produto inovador possuí uma tela de fósforo horizontal que pode ser posicionada diretamente sob amostras transparentes a elétrons. O OPTIMUS™ pode ser usado de forma intercambiável com o cabeçote de detector padrão de todos os detectores Bruker e-Flash EBSD, proporcionando fácil acesso tanto ao EBSD como a TKD por meio do mesmo detector.

O cabeçote de detector OPTIMUS™ TKD proporciona excelentes condições geométricas, o que resulta em duas importantes vantagens em comparação com os detectores EBSD com TKD que utilizam apenas tela vertical. Primeiro, o sinal é adquirido onde ele é mais intenso e, segundo, as imagens produzidas apresentam a menor distorção possível. Graças ao ganho de sinal proporcionado pelo OPTIMUS™, o usuário pode capturar os dados mais rapidamente aplicando a mesma corrente de sonda como antes para obter uma resolução espacial lateral melhor com aplicação de correntes de sonda mais baixas. Alternativamente, pode-se reduzir a tensão de aceleração do MEV, o que melhora a análise de amostras muito delgadas, uma vez que a probabilidade de difração de elétrons de baixa energia na rede cristalina dos grãos é maior. A segunda vantagem - menor distorção de imagem - resulta em melhora adicional da detecção de banda e da exatidão da indexação.

Bruker Nano, Alemanha (20.07.2016)
Referência: NTL315-11