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Novo Detector EDS com grande área ativa para Microscopia Eletrônica de Transmissão
Novo Detector EDS com grande área ativa para Microscopia Eletrônica de Transmissão
A Bruker lança o XFlash® 5060 T, a última novidade na família de detectores XFlash® para micro e nanoanálises (EDS) em microscopia eletrônica. Fornecendo 60 mm² de área ativa, o XFlash® 5060 T garante o ângulo ideal para análises em correntes de baixa tensão e de amostras com baixo rendimento de raios-X. A extremidade fina do detector e o colimador de design específico para o microscópio permite menores distâncias entre o detector e a amostra e permite um ótimo ângulo de incidência sem necessidade de inclinamento da mesma. Comparado aos detectores de Si(Li), o XFlash® 5060 T exibe velocidade superior e redução drástica de tempo morto, provendo vantagens significativas na eficiência, mesmo em situações de baixas contagens. Além disso, o XFlash® 5060 T pode operar com uma ótima resolução de energia em taxas de contagem muito além de qualquer detector Si(Li) ou até mesmo de detectores SDD dos concorrentes para MET. A grande sensibilidade do XFlash® 5060 T permite a detecção da radiação com altas energias. Em combinação com o módulo eletrônico de aquisição de dados e o software sofisticado, é possível se ter análises quantitativas confiáveis de picos de 40 kV e acima disto. A resolução de energia do detector disponível é a de 127 eV no Mn Ka, que permite análises eficientes e confiáveis de elementos leves a partir do boro. O XFlash® 5060 T, incluindo a eletrônica, é desenvolvido para causar o mínimo de interferência com todos os microscópios eletrônicos de transmissão compatíveis.

Bruker Nano, Alemanha (11.10.2012)
Referência: NTL111-550