A Bruker AXS apresentou seu novo sistema D2 CRYSO™, um analisador de orientação de cristal topo de linha que adota um novo método patenteado de difração de raio X que dispersa energia (EDXRD). O D2 CRYSO da Bruker é ideal para a determinação das orientações estruturais em monocristais médios e grandes necessárias para o desenvolvimento e processamento de materiais monocristalinos. Trata-se de monocristais semicondutores, como Si, SiC, GaAs e Ge, mais óxidos, fluoretos e nitretos usados em lentes ópticas ou monochromadores, além de diamantes sintéticos e monocristais metálicos como Ni, Ag e Au. A aplicação do método patenteado ED-XRD elimina a necessidade de múltiplos eixos de rotação ou caros detectores de área. Isto torna o D2 CRYSO robusto e praticamente livre de manutenção. O D2 CRYSO usa o novo detector de desvio de silicone XFlash® 30 mm (SDD), líder no segmento, com excelente resolução de energia e velocidade, sem necessidade de água de refrigeração. "O novo D2 CRYSO permitirá análises de orientação cristalina simples e totalmente automatizadas em QC," disse o Dr. Ning Yang, cientista de aplicação da Bruker AXS. "Mesmo usuários iniciantes conseguirão executar o serviço de forma rápida e precisa, mas também há um impressionante modo especializado P&D de crescimento de cristais." O Dr. Frank Burgaezy, vice-presidente executivo da Bruker AXS, acrescentou: "O D2 CRYSO é outro sistema inovador na nossa bem sucedida linha de produtos XRD, e realmente oferece pela primeira vez 'orientação cristalina pronta para uso'. O D2 CRYSO oferece alta velocidade e excelente precisão por ser baseado na nossa tecnologia líder de detecção SDD XFlash®."