Lapacho
  Productos Seleccionados
Difracción Kikuchi de transmisión en el microscopio electrónico de barrido
Difracción Kikuchi de transmisión en el microscopio electrónico de barrido
Bruker introduce la nueva cabeza de detector OPTIMUS™ TKD para la difracción Kikuchi de transmisión (TKD) en el microscopio electrónico de barrido (SEM). Este innovador producto presenta una pantalla de fósforo horizontal que se puede colocar justo debajo de muestras transparentes a los electrones. OPTIMUS™ se puede utilizar con cualquier cabeza de detector estándar de todos los detectores e-Flash EBSD de Bruker, permitiendo así el acceso a EBSD y TKD con el mismo detector.

La cabeza de detector OPTIMUS™ proporciona condiciones geométricas óptimas, lo que resulta en dos ventajas significativas en comparación con TKD usando detectores EBSD estándar que tienen solo una pantalla vertical. En primer lugar, la señal se adquiere allí donde es más fuerte y, en segundo lugar, los patrones producidos presentan la menor distorsión posible.
Gracias a la ganancia en señal que proporciona OPTIMUS™ TKD, los usuarios pueden adquirir datos más rápidamente utilizando la misma corriente de sonda en el microscopio u obtener una mejor resolución espacial usando corrientes de sonda menores. Otra alternativa es reducir el voltaje de aceleración del SEM para mejorar el análisis de muestras muy finas, ya que aumenta la probabilidad de que los electrones de menor energía sean difractados en la red cristalina de los granos. La segunda ventaja, la reducida distorsión de patrones, conlleva una mejora tanto de la detección de bandas como de la exactitud de indexación.

Bruker Nano, Alemania (20.07.2016)
Anote el NTL315-11



Información gratuita
Seleccione los productos para solicitar información gratuita.