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Micro-CT para SEM
Micro-CT para SEM
Bruker Nano Analytics introduce su nuevo accesorio de tomografía microcomputarizada (CT) para microscopios electrónicos de barrido (SEM). El Micro-CT para SEM puede agregar a los SEMs funciones de radiografía de alta resolución en 2D y 3D, permitiendo el análisis no destructivo de microestructuras internas de especímenes en numerosas aplicaciones, incluyendo materiales compuestos, cerámicas, componentes electrónicos, materiales de filtrado, papel, madera, plantas y mucho más.
El Micro-CT para SEM sirve para analizar pequeños objetos sin necesidad de alguna preparación específica. Con la fuente de rayos X bien enfocada y la plataforma de rotación de precisión es posible visualizar en 3D detalles de hasta 400 nm de tamaño. Una cámara CCD de 16 bits de detección directa se utiliza para grabar las proyecciones de sombra sobre la microestructura interna del objeto. Los tiempos típicos de exposición varían entre 2 y 10 segundos por proyección con corrientes de haz electrónico de 100-500 nA. La cámara de rayos X está disponible con una resolución de 512x512 ó 1024x1024 píxeles.
El Micro-CT para SEM de Bruker viene acompañado de un eficaz software de aplicación. Un programa para el renderizado en 3D está disponible para crear modelos visuales realistas.

Bruker Nano, Alemania (07.02.2014)
Anote el NTL113-520



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