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Nuevo detector EDS de área grande para microscopía electrónica de transmisión
Nuevo detector EDS de área grande para microscopía electrónica de transmisión
Bruker introduce el XFlash® 5060 T, la última adición a la familia XFlash® de detectores para el micro y nanoanálisis de rayos X (EDS) en microscopía electrónica. Con un área de 60 mm2, el XFlash® 5060 T garantiza un ángulo sólido óptimo para el análisis a corrientes de haz bajas y de muestras con rendimiento de rayos X reducido. El delgado capuchón de detector y el diseño de colimador específico para microscopios permiten distancias detector-muestra extremadamente cortas y proporcionan un gran ángulo de incidencia sin necesidad de inclinar la muestra.
Comparado con detectores Si(Li), el XFlash® 5060 T ofrece una velocidad superior y tiempos muertos mucho más reducidos, lo que supone una ventaja importante en la eficiencia de captación, incluso en situaciones de tasas de impulsos reducidas. Además, el XFlash® 5060 T analiza con una buena resolución energética a tasas de impulsos mucho más allá de lo que cualquier Si(Li) o incluso SDD similar puede soportar en TEM.
La impresionante sensibilidad del XFlash® 5060 T permite detectar radiación de alto contenido energético. En combinación con unidades de procesamiento de señales de última generación y un software sofisticado, es posible llevar a cabo análisis de picos de elementos con tensiones de 40 kV o superiores. La magnífica resolución energética del detector, una versión con 127 eV a Mn Ka se encuentra disponible, permite realizar análisis de elementos ligeros de forma fiable y eficiente a partir del boro. El XFlash® 5060 T, incluida la unidad electrónica, está diseñado para causar interferencias mínimas con todos los microscopios electrónicos compatibles, ya sean convencionales o de aberración corregida.

Bruker Nano, Alemania (11.10.2012)
Anote el NTL111-550