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Detectores altamente especializados para rayos X
Detectores altamente especializados para rayos X
La serie 5000 de detectores por deriva de silicio (SDD, silicon drift detectors) XFlash® de Bruker Nano incluye ahora el XFlash® 5030 T, el primer SDD específicamente diseñado para la operación en microscopios electrónicos de transmisión (TEM/STEM). Otro producto de la paleta es el e-Flash, un detector para la difracción de electrones retrodispersados (EBSD) de alta velocidad. La larga experiencia de Bruker en la tecnología de SDD ha llevado al desarrollo de un detector, sin nitrógeno líquido, que cumple todos los requisitos para garantizar una operación segura y fiable en TEM/STEM. El XFlash® 5030 T permite una captación de datos más rápida y ofrece mejores resultados en el rango de los elementos ligeros que los detectores de Si(Li). Además de proporcionar excelente resolución energética con una gran estabilidad, el detector es capaz de procesar tasas de impulsos extremas y puede soportar fácilmente condiciones de sobrecarga de rayos X. El detector para EBSD e-Flash es parte del sistema de análisis QUANTAX CrystAlign. Está equipado con una sensible cámara de alta velocidad y permite la adquisición de 630 patrones por segundo usando un binning de 4x4 y 800 patrones por segundo con binning 8x8. El detector se puede ajustar verticalmente, incluso cuando el SEM está en funcionamiento. Esto permite optimizar la señal y operar a diferentes distancias de trabajo. El software de Bruker integra EDS y EBSD en una única interfaz de usuario, lo que permite análisis combinados extremadamente rápidos.

Bruker Nano, Alemania (13.01.2011)
Anote el NTL110-17