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Bruker AXS introduce el D2 CRYSOTM, un analizador de la orientación de grandes cristales basándose en la tecnología ED-XRD
Bruker AXS introduce el D2 CRYSO<sup>TM</sup>, un analizador de la orientación de grandes cristales basándose en la tecnología ED-XRD
Bruker AXS ha introducido el nuevo D2 CRYSOTM, un analizador singular de la orientación de cristales, de bancada de laboratorio, que emplea un nuevo método patentado de difracción de rayos X dispersiva de energía (ED-XRD). El D2 CRYSO de Bruker es una herramienta ideal para determinar la orientación de la red cristalina en cristales singulares de tamaño mediano y grande. Esta determinación es necesaria para procesos de crecimiento y procesamiento especiales de cristales. Los materiales analizados pueden ser semiconductores y cristales singulares como Si, SiC, GaAs y Ge, además óxidos, fluoruros y nitruros utilizados en lentes ópticos o monocromadores, así como también diamantes industriales y metales en forma cristalina como Ni, Ag y Au. El uso del método patentado ED-XRD elimina la necesidad de una rotación por varios ejes, o del uso de detectores costosos de gran superficie. Con esta tecnología el D2 CRYSO es robusto y básicamente libre de mantenimiento. El D2 CRYSO utiliza el detector de Bruker XFlash®, un detector de deriva de silicona SDD con una excepcional resolución de energía y rapidez, y no precisa de agua refrigerante. "El nuevo D2 CRYSO hará posible el análisis de la orientación del cristal completamente fácil y automático en el control de calidad" ha comentado Dr. Ning Yang, científico de aplicaciones de Bruker AXS. "Hasta usuarios novatos pueden realizar esta tarea rápida y precisamente, aun así existe un Modo Experto impresionante para la I&D del crecimiento de cristales" dijo Dr. Frank Burgaezy, Vicepresidente Ejecutivo de Bruker AXS, y añadió "El D2 CRYSO es otro sistema innovador más en nuestra línea de productos exitosos de XRD, y realmente es por primera vez un instrumento para la orientación del cristal 'listo para usar'. El D2 CRYSO ofrece una alta velocidad y una excelente precisión ya que se basa en la nuestra tecnología líder del SDD XFlash®.

Bruker AXS, Alemania (12.08.2010)
Anote el NTL209-526