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Bruker AXS introduce el D2 CRYSOTM, un analizador de la orientación de grandes cristales basándose en la tecnología ED-XRD
Bruker AXS introduce el D2 CRYSO<sup>TM</sup>, un analizador de la orientación de grandes cristales basándose en la tecnología ED-XRD
Bruker AXS ha introducido el nuevo D2 CRYSO™, un analizador singular de la orientación de cristales, de bancada de laboratorio, que emplea un nuevo método patentado de difracción de rayos X dispersiva de energía (ED-XRD). El D2 CRYSO de Bruker es una herramienta ideal para determinar la orientación de la red cristalina en cristales singulares de tamaño mediano y grande. Esta determinación es necesaria para procesos de crecimiento y procesamiento especiales de cristales. Los materiales analizados pueden ser semiconductores y cristales singulares como Si, SiC, GaAs y Ge, además óxidos, fluoruros y nitruros utilizados en lentes ópticos o monocromadores, así como también diamantes industriales y metales en forma cristalina como Ni, Ag y Au. El uso del método patentado ED-XRD elimina la necesidad de una rotación por varios ejes, o del uso de detectores costosos de gran superficie. Con esta tecnología el D2 CRYSO es robusto y básicamente libre de mantenimiento. El D2 CRYSO utiliza el detector de Bruker XFlash®, un detector de deriva de silicona SDD con una excepcional resolución de energía y rapidez, y no precisa de agua refrigerante. "El nuevo D2 CRYSO hará posible el análisis de la orientación del cristal completamente fácil y automático en el control de calidad" ha comentado Dr. Ning Yang, científico de aplicaciones de Bruker AXS. "Hasta usuarios novatos pueden realizar esta tarea rápida y precisamente, aun así existe un Modo Experto impresionante para la I&D del crecimiento de cristales" dijo Dr. Frank Burgaezy, Vicepresidente Ejecutivo de Bruker AXS, y añadió "El D2 CRYSO es otro sistema innovador más en nuestra línea de productos exitosos de XRD, y realmente es por primera vez un instrumento para la orientación del cristal 'listo para usar'. El D2 CRYSO ofrece una alta velocidad y una excelente precisión ya que se basa en la nuestra tecnología líder del SDD XFlash®.

Bruker AXS, Alemania (12.08.2010)
Anote el NTL209-526